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第七届中国二次离子质谱学术会议成功举行

2018-10-25 08:43| 发布者: admin| 查看: 656| 评论: 0|来自: 中国真空学会

摘要: 2018年10月8-12日,由中国真空学会、中国电子学会电子材料学分会主办,中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所纳米真空互联实验站承办的“第七届中国二次离子质谱学术会议”(The 7thChinese National Conference o ...

 
        2018年10月8-12日,由中国真空学会、中国电子学会电子材料学分会主办,中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所纳米真空互联实验站承办的“第七届中国二次离子质谱学术会议”(The 7th Chinese National Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry,SIMS-China VII)在苏州成功举行。二次离子质谱技术与应用在中国越来越广泛,本次大会为工作在这一领域的国内外科学家、技术专家和青年学者提供了一个充分交流学习的平台。苏州纳米所丁孙安研究员、台湾清华大学凌永建教授、香港科技大学翁禄涛教授担任大会主席。


 

        清华大学查良镇教授,台湾清华大学凌永健教授,香港科技大学翁禄涛教授,美国北卡罗莱纳州立大学资深科学家Fred Stevie、澳大利亚科廷大学David Saxey教授,日本京都大学Jiro Matsuo教授,中科院地质与地球物理研究所周新华、李献华、苏本勋研究员,中科院化学所汪福意研究员等100余名国内外SIMS研究人员和青年学生出席会议并做精彩报告。 埃文斯材料分析集团(EAG)首席科学家 Charles Magee博士等七位SIMS领域国际知名专家学者在本次会议上作了精彩的特邀报告。与会专家针对SIMS仪器研发、理论发展及其在不同领域的开拓应用进行了全方位的交流,引发了参会人员的热烈讨论。

 

        会议组委会特邀清华大学党委书记陈旭教授,为中国二次离子质谱技术的开拓者-查良镇教授颁发了终生成就奖。查良镇教授在过去50多年的职业生涯中,一直致力于二次离子质谱科学研究与人才培养,大力发展SIMS技术在中国的应用,推进与国际SIMS领域的深入交流,也是中国二次离子质谱学术会议的倡议者和创办者。

        为普及SIMS基础理论知识,会议学术委员会和组委会特邀SIMS领域专家朱梓华、Fred STEVIE、Lu-Tao WENG 、汪福意等为参会的青年科研人员举行了为期一天的SIMS基础、仪器和分析应用的会前课程短训。


 

     会后,与会专家参观了纳米真空互联实验站,对飞行时间二次离子质谱仪的运行进行现场考察。 在纳米真空互联实验站,大家就飞行时间质谱仪在环境分析、生命分析领域的现场应用,离子迁移谱仪器在医疗诊断、爆炸物快速检测等领域的科学研究等进行了现场交流。参观过程中向各位专家介绍了Nano-X的建设背景、科研项目研究现状、平台运行等情况。重点介绍了真空互联设施以及合作课题展开情况,来访的专家学者对Nano-X建设给予极大的肯定,并提出了宝贵建议和期望,同时期待与Nano-X展开进一步的深入合作。

 

        本次会议为我国二次离子质谱界提供了学术研讨、技术交流与合作的平台,展示了最新的研究成果,有力地促进二次离子质谱技术在各领域的应用推动了我国二次离子质谱研究的发展。


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